菲希爾鍍層測厚儀的測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證

　　菲希爾鍍層測厚儀是對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段。

　　菲希爾鍍層測厚儀隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。菲希爾鍍層測厚儀測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。菲希爾鍍層測厚儀采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。菲希爾鍍層測厚儀適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。

　　菲希爾鍍層測厚儀的優(yōu)點介紹：

　　1.菲希爾鍍層測厚儀測量速度快。

　　2.功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文測量方法。

　　3.菲希爾鍍層測厚儀穩(wěn)定性高。

　　4.精度高精度，菲希爾鍍層測厚儀精度可達到1-2%。

　　5、覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　6、X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，菲希爾鍍層測厚儀使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

　　7、軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，菲希爾鍍層測厚儀測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

　　8、菲希爾鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，菲希爾鍍層測厚儀測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證。

　　9、樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。菲希爾鍍層測厚儀設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機電聯(lián)動，輻射安全高于國標要求。