鍍層厚度測試儀，測厚儀:滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求、高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度、定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對(duì)齊、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)、良好的射線屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
膜厚儀又叫膜厚計(jì)、膜厚測試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，應(yīng)用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也能夠測定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。 膜厚儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，應(yīng)用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也能夠測定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。應(yīng)用磁感應(yīng)原理的測厚儀，準(zhǔn)繩上能夠有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。假如覆層資料也有磁性，則請求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，丈量感應(yīng)電動(dòng)勢的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，應(yīng)用磁阻來調(diào)制丈量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進(jìn)步（簡直達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。 磁性原理膜厚儀可應(yīng)用來準(zhǔn)確丈量鋼鐵外表的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
鍍層厚度測試儀，測厚儀
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求、高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度、定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對(duì)齊、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)、良好的射線屏蔽作用、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
鍍層厚度測試儀，測厚儀
型號(hào)：Thick 800A、元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）、同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層、分析含量一般為ppm到99.9% 、鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型、相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型、多變量非線性回收程序、度適應(yīng)范圍為15℃至30℃、電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源、外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm、樣品室尺500(W)×350(D)×140(H) mm、重量：90kg
|
||
|
||
 |
打印當(dāng)前頁會(huì)員_a.png)