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Thick800A 鍍層測(cè)厚儀

Thick800A 鍍層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述:

Thick800A 鍍層測(cè)厚儀:Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

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  • 企業(yè)類(lèi)型:制造商
  • 新舊程度:
  • 原產(chǎn)地:江蘇昆山
  • 環(huán)境溫度:15℃-30℃
  • 管流:50μA-1000μA
  • 儀器重量:75KG
  • 元素分析:硫(S)到鈾(U)
  • 精度:0.005mm

 

   天瑞光譜分析儀器是屬于大型光學(xué)精密一起。以前我國(guó)主要依靠進(jìn)口光譜分析儀,進(jìn)口的光譜分析儀價(jià)格昂貴,耗費(fèi)國(guó)家大量外匯。所以一機(jī)都在75年組織了光電式光譜分析儀會(huì)戰(zhàn),從此我國(guó)可以自己大量生產(chǎn)大型光譜分析儀。光譜分析儀器結(jié)構(gòu)雖然很復(fù)雜,主要由下面四部分組成:光源、分光器(又稱(chēng)單色器)、接收器(又稱(chēng)探測(cè)器)、輸出裝置。為了更好的利用儀器和得到滿(mǎn)意的測(cè)試結(jié)果,必須對(duì)儀器各主要部分的作用和原理有所了解。

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光譜分析儀的優(yōu)點(diǎn)

1.采樣方式靈活,對(duì)于稀有和貴重金屬的檢測(cè)和分析可以節(jié)約取樣帶來(lái)的損耗。

2.測(cè)試速率高,可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集,并通過(guò)計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出。

3.對(duì)于一些機(jī)械零件可以做到無(wú)損檢測(cè),而不破壞樣品,便于進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。

4.分析速度較快,比較適用做爐前分析或現(xiàn)場(chǎng)分析,從而達(dá)到快速檢測(cè)。

5.分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。

光譜分析儀的缺點(diǎn)

1.對(duì)于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準(zhǔn)確檢測(cè)。

2.不是原始方法,不能作為仲裁分析方法,檢測(cè)結(jié)果不能做為國(guó)家認(rèn)證依據(jù)。

3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對(duì)壟斷的因素,購(gòu)買(mǎi)和維護(hù)成本都比較高,性?xún)r(jià)比較低。

4.需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模,對(duì)于小批量樣品檢測(cè)顯然不切實(shí)際。

5.模型需要不斷更新,在儀器發(fā)生變化或者標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí),模型也要變化。

6.建模成本很高,測(cè)試成本也就比較大了,當(dāng)然對(duì)于大量樣品檢測(cè)時(shí),測(cè)試成本會(huì)下降。

7.易受光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)等外部或內(nèi)部因素影響,經(jīng)常出現(xiàn)曲線(xiàn)非線(xiàn)性問(wèn)題,對(duì)檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確度影響較大。



黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。

儀器介紹

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

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滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

Thick800A 鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

型號(hào):Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線(xiàn)性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

Thick800A 鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)


無(wú)損天瑞X熒光光譜鍍層膜厚檢測(cè)儀,天瑞鍍層測(cè)厚儀

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