Fischer膜厚儀維修,牛津膜厚儀 電鍍鍍測(cè)測(cè)試儀 CMI900熒光X射線鍍層測(cè)厚儀,有著非破壞,非接觸,快速無損測(cè)量,多層合金測(cè)量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
牛津膜厚儀 電鍍鍍測(cè)測(cè)試儀
|
牛津無損電鍍膜厚測(cè)試儀CMI900 ,專業(yè)測(cè)量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測(cè)量,快速 精準(zhǔn) 無損,業(yè)內(nèi)*,客戶應(yīng)用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)。
金屬鍍層測(cè)厚儀對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀金屬鍍層測(cè)厚儀器,測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。 X射線金屬鍍層測(cè)厚儀測(cè)量方法。
測(cè)量多層金屬鍍層,目前優(yōu)良的方式:X-ray鍍層測(cè)量法
可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量,
避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。
此外,適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。
金屬鍍層厚度測(cè)量, 例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au;Sn等 合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測(cè)量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(無電浸鎳)在Fe上等
合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測(cè)量, 例如: AuCuCd在Ni上等
雙鍍層厚度測(cè)量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黃銅上等
雙鍍層厚度測(cè)量(其中一層是合金層), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青銅上等
三鍍層, 例如: Cr/Ni/Cu在塑膠或在鐵上
PCB LED 連接器等行業(yè) gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu
~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常見應(yīng)用
電鍍層測(cè)厚儀注意事項(xiàng)
A、工作電源要求:CMI900必須工作于穩(wěn)定工作電壓狀態(tài)之下,必須對(duì)CMI900配置UPS后備電源,防止突然斷電引起儀器損壞。UPS后備電源功率大約在1000W~2000W之間即可。
B、環(huán)境要求:CMI900是高科技精密測(cè)量?jī)x器,對(duì)環(huán)境的要求特別高,環(huán)境的變化會(huì)直接影響測(cè)量精度、儀器穩(wěn)定性、會(huì)導(dǎo)致儀器出現(xiàn)性能問題及影響儀器的使用壽命。下面是實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件基本要求:
□ 實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)溫度為20℃,一般檢測(cè)間及試驗(yàn)間的溫度應(yīng)在20±5℃, 線值計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)間為20±2℃,電工 與無線電專業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)間和線值計(jì)量的計(jì)量檢測(cè)儀器間為20±3℃。
□ 實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的相對(duì)濕度一般應(yīng)保持在50-70%。
□ 實(shí)驗(yàn)室的噪音、防震、防塵、防腐蝕、防磁與屏蔽等方面的環(huán)境條件應(yīng)符合在室內(nèi)開展的檢定項(xiàng)目的檢測(cè) 儀器設(shè)備對(duì)環(huán)境條件的要求,室內(nèi)采光應(yīng)利于檢定工作和計(jì)量檢測(cè)工作的進(jìn)行。
□ 實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境條件出現(xiàn)異常,例如溫度和濕度超過規(guī)定范圍且明顯影響檢定或檢測(cè)結(jié)果時(shí)或當(dāng)環(huán)境條件經(jīng)常出現(xiàn)異常情況,采取適當(dāng)措施給予解決。